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불량 잡아내는 자동광학검사 장치

연합뉴스 기자
등록일 2025-02-19 19:36 게재일 2025-02-20 19면
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19일 서울 강남구 코엑스에서 열린 국내 최대 규모의 반도체 박람회 ‘세미콘 코리아 2025’에 참가한 한 업체 부스에서 자동광학검사(AOI) 장치가 웨이퍼 불량 테스트 시연을 하고 있다. /연합뉴스

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